C-V measurement/siː-vi ˌmeʒəˈmɛnt/电容-电压测量 · 电子工程术语
一种用于分析半导体器件（如二极管、MOSFET）电容特性随电压变化的方法，常用于评估材料质量、掺杂浓度和界面状态。
📊 定义
- 通过测量电容与电压的关系来分析材料特性
- 广泛应用于半导体器件测试
- 能提供关于界面状态和掺杂分布的信息
📊 应用场景
- 半导体制造中的质量控制
- 研究材料缺陷和界面态
- 优化器件设计和性能
💡 实例
工程师在制作MOSFET时，使用C-V测量技术来检测栅氧化层的质量，确保器件工作稳定。